Neste trabalho foi utilizada a técnica de Fluorescência de Raios X para auxiliar dois aspectos problemáticos aplicados em análise de pigmentos em quadros: o primeiro foi a questão da localização dos pigmentos em suas respectivas camadas pictóricas numa pintura e o segundo a questão do posicionamento do equipamento de fluorescência de raios X na análise de materiais. Utilizou-se as técnicas de Fluorescência de Raios X e Microscopia Óptica. Houve o preparo das amostras contendo camadas e misturas de pigmentos comerciais de diversos períodos históricos aplicados sobre tela, sendo empregado técnicas convencionais de pintura. A técnica de XRF foi utilizada para estudar a distribuição dos pigmentos nas camadas pictóricas em cada amostra, a partir das razões entre as linhas de energia Kα e Kβ para os elementos-chave que caracterizam tais pigmentos por XRF, com esses dados foi possível obter as curvas de calibração de cada elemento chave dos pigmentos analisados, e posteriormente aplicar a técnica Kα/Kβ nos dados referentes aos artefatos do antigo Egito da coleção egípcia do Museu Nacional da UFRJ. A Microscopia Ótica foi utilizada para verificar a qualidade das amostras criadas, conseguindo visualizar com clareza as camadas de pigmentos. Foi desenvolvida uma mesa de posicionamento automático para o sistema de XRF do LIN. As análises foram realizadas utilizando o sistema portátil de EDXRF, que consiste em um tubo de raios X Mini-X, da Amptek e um detector X-123 SDD da Amptek operando a uma voltagem de 30 kV e uma corrente de 40 μA. A resolução destas questões auxiliará sobre maneira nos trabalhos futuros na área de arqueometria, pois permitirá que a maioria das análises envolvendo pigmentos sejam efetuadas de forma não-destrutiva e in situ, com os resultados mais precisos, sem a necessidade de retirada de amostras.

In this work the X-Ray Fluorescence technique was used to assist two problematic aspects applied in the analysis of pigments in frames: the first one was about the location of the pigments in their respective pictorial layers in a painting. And the second one, was the question of the positioning of the equipment of X-ray fluorescence in materials analysis. The techniques of X-Ray Fluorescence and Optical Microscopy were used. Samples were prepared containing layers and mixtures of commercial pigments, of different historical periods, applied on canvas, using conventional painting techniques. The XRF technique was used to study the distribution of the pigments in the pictorial layers in each sample, from the ratios between the energy lines Kα and Kβ for the key elements that characterize these pigments by XRF. Throught these data it was possible to obtain the calibration curves of each key element of the analyzed pigments. Later it was applied the technique Kα / Kβ in the data referring to the artifacts of ancient Egypt from the Egyptian collection of the National Museum of UFRJ. The Optical Microscopy was used to verify the quality of the samples created and it was possible to visualize clearly the layers of pigments. An automatic positioning table was developed for the LIN XRF system. The analyzes were performed using the portable EDXRF system. This system consists of an X-ray Mini-X tube of Amptek and an X-123 SDD detector of Amptek operating at a voltage of 30 kV and a current of 40 μA. The resolution of the proposed questions will assist in future work in the area of archeometry, since it will allow the majority of the analyzes involving pigments to be carried out in a non-destructive and in situ way, with the most accurate results, without the need for sample collection.

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